半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）检测认证机构

2024-12-02

半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）检测检验哪些项目？检测标准是什么？我们严格按照标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。同时，我们还根据客户的需求，提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。

检测项目（参考）：

二极管特性曲线、低温测试、反向恢复时间、反向漏电流、密封、微分电阻Rz、浪涌电流、电耐久性试验、瞬态热阻、稳态热阻R_ja、R_jc、箝位电压、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、高温反偏试验、高温测试、高温寿命

1、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015

4、JESD51-14-2010 半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法

5、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4023

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

7、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节4.2.3、4.2.4

8、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 112

9、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法标准试验方法 MIL-STD-750F

10、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1014.2

11、GB/T 2423.23-2013 环境试验第2部分:试验方法试验Q：密封

12、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009

13、GB/T4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 7.1.2、7.1.4

14、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法标准试验方法 3101.4

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台，还要看平台或买家的要求。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他检测内容请咨询客服。