硅单晶检测测试哪些项目？检测周期多久呢？检测费用是多少？我们严格按照标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。同时，我们还根据客户的需求，提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。百检第三方检测机构支持寄样、上门检测，主要为公司、企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

检测项目（参考）：

部分参数、少数载流子寿命、氧含量、表面金属、全部参数、碳含量、晶体完整性、直径、晶向及晶向偏离度、径向电阻率变化、电阻率、导电类型、部分项目、晶向、直径及允许误差、弯曲度、翘曲度、氧化诱生缺陷、表面质量、厚度和总厚度变化、厚度与总厚度变化、微管密度、晶型、表面粗糙度、晶向及晶向离度、全部项目、硅单晶电阻率标准样片检定校准、主参考面晶向

检测标准一览：

1、GB/T 12965-2005 《硅单晶切割片和研磨片》

2、GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

3、SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度测试方法 5. 原子力显微镜法

4、GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法

5、GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法

6、GB/T 25076-2018 太阳电池用硅单晶 6.2

7、GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 GB/T 30867-2014

8、SEMI PV43-0113 太阳能电池用硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法

9、JJF 1760 硅单晶电阻率标准样片校准规范

10、GB/T12962-2015 硅单晶

11、GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法

12、GB/T12965-2018 硅单晶切割片和研磨片

13、GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

14、SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法 SJ/T 11503-2015

15、GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

16、GB/T 12964-2003 直径

17、GB/T12964-2018 硅单晶抛光片

18、SJ/T11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法

19、GB/T 12962-2015 硅单晶

20、GB/T 12965-2018 硅单晶切割片和研磨片

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测时间周期

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

检测流程

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他检测内容请咨询客服。