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非磁性基体金属上非导电覆盖层

覆盖层厚度测量涡流法

1范围

本标准规定了使用涡流测厚仪无损测量非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度的方法。

本方法适用于测量大多数阳极氧化膜的厚度;但它不适用于一切的转化膜,有些转化膜因为太薄而不能用这种方法测量(见第7章)。

本方法理论上能测量磁性基体金属上覆盖层的厚度﹐但不予推荐。在这种情况下﹐应采用GB/T 4956中所规定的磁性方法进行测量。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。

GB/T 4956﹑磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法(ISO 2178,1982,IDT)

3原理

涡流测厚仪器测头装置中产生的高频电磁场,将在置于测头下面的导体中产生涡流,涡流的振幅和相位是存在于导体和测头之间的非导电覆盖层厚度的函数。

检测项目及标准

检测流程

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