电子元器件失效分析有哪些？检测费用与价格是多少钱呢？检测时间需要多久呢？下面小编为您解答。百检也可依据相应电子元器件失效分析标准或者根据您的需求设计检测方案，以满足您多样化的需求。

电子元器件失效分析范围：开路、短路、漏电、功能失效等，电子元器件失效分析项目：显微形貌分析、表面元素分析等，实验室可根据GB/T 2689.1-1981、GB/T 7289-2017等相应电子元器件失效分析标准为合作伙伴提供分析服务，检测周期：常规试验3-15个工作日出具电子元器件失效分析报告

电子元器件失效分析项目

电测：连接性检测、电参数检测、功能检测等;

无损检测：射线检测技术( X 射线、γ 射线、中子射线等)，工业CT,康普顿背散射成像(CST)技术，超声检测技术(穿透法、脉冲反射法、串列法)，红外热波检测技术，声发射检测技术，涡流检测技术，微波检测技术，激光全息检验法等

显微形貌分析：光学显微分析技术、扫描电子显微镜二次电子像技术等

表面元素分析：扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)、俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS)、二次离子质谱分析(SIMS)等

无损分析技术：X射线透视技术、三维透视技术、反射式扫描声学显微技术(C-SAM)等

电子元器件失效分析标准

CEI EN 61709-2012 IEC 61709：1996电子元器件 可靠性 失效率的标准条件和转换的应力模型

DIN EN 61709-1999 电子元器件.可靠性.失效率和转变应力模式的参考条件

GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则

GB/T 7289-2017 电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型

GB/T 21711.7-2018 基础机电继电器 第7部分：试验和测量程序

QJ 1317A-2005 电子元器件失效分类及代码

QJ 2663-1994 航天电子元器件失效数据采集卡及填写规定

T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序

优势

1、拥有严格的质量控制体系与完善的后期服务

2、检测项目覆盖领域广泛

3、仪器设备及其他辅助实验设施齐全，持续加强检测研发实力。

4、提供可靠的解决方案

5、签订保密协议，注重保护客户隐私。

检测流程

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