位错密度检测范围

砷化镓晶体，蓝宝石，45钢，硅片，纳米材料，淬火件，冷轧铜，铸钛合金，钛合金，铝合金，

位错密度检测项目

XRD位错密度检测，位错密度测量等。

检测报告有哪些用途?

1、销售使用。

2、研发使用。

3、改善产品质量。

4、科研论文数据使用。

5、质量控制使用。

位错密度检测标准

GB/T 5252-2020锗单晶位错密度的检测方法

GB/T 8760-2006砷化镓单晶位错密度的测量方法

GB/T 32282-2015氮化镓单晶位错密度的测量 阴*荧光显微镜法

GB/T 33763-2017蓝宝石单晶位错密度测量方法

GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度的测量方法

SJ/T 10557.3-1994电解电容器用铝箔平均位错密度测量方法

SJ/T 11489-2015低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法

SJ/T 11490-2015低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法

检测流程

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他检测内容请咨询客服。