GB/T15877-2013半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架规范

2023-09-01

标准号:GB/T 15877-2013

标准名称:半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2013-12-31

实施日期:2014-08-15

替代以下标准:替代GB/T 15877-1995

发布单位:国家质量监督检验检疫.

检测流程

检测流程

温馨提示:以上内容仅供参考,更多其他检测内容请咨询客服。

CB/Z340-1984舱柜中液体的倾侧力矩计算方法
CB3403-1991船用比例电磁铁
相关文章
返回顶部小火箭