GB/T 39343-2020.Processor device single event effects experiment design and procedure for aerospace.
1范围
GB/T 39343规定了宇航用处理器器件的单粒子试验设计与程序。
GB/T 39343适用于宇航用处理器器件的单粒子试验设计和过程控制,其他领域应用可参照执行。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB 18871-2002电离辐射防护与辐射源安全基本标准
3术语和定义、缩略语.
3.1 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1.1
处理器器件 processor device
内部含有处理器的器件,在正常的使用中可取指并执行指令的器件。
3.1.2
单粒子效应 single event effects; SEE
描述单粒子事件中的许多效应的术语。
3.1.3
单粒子事件 single event phenomena ;SEP
由单个高能粒子撞击引发的半导体器件一系列响应的统称,包括中子、质子引起的效应。
3.1.4
单粒子翻转 single event upset;SEU
单个高能粒子作用于器件,引发器件的逻辑状态改变的一种辐射效应。
3.1.5
单粒子锁定 single event latch up;SEL
单个高能粒子将器件内的可控硅触发开启,形成低电阻、大电流状态。
3.1.6
单粒子功能中断 single event functional interrupt;SEFI
单个高能粒子作用于器件,使被试器件功能丧失或紊乱，只有通过复位和重新配置才能恢复器件功能。
3.1.7
线性能量传输 linear energy transfer;LET
粒子沿人射方向在材料中单位长度沉积的能量。

检测流程

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他检测内容请咨询客服。