SJ 50033/109-1996《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》

发布时间:2024-08-23

SJ 50033/109-1996《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》基本信息

标准号:

SJ 50033/109-1996

中文名称:

《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》

发布日期:

1996-08-30

实施日期:

1997-01-01

发布部门:

电子工业部

提出单位:

电子工业部

归口单位:

中国电子技术标准化研究所

起草单位:

电子工业部第四十四研究所

起草人:

王雨苏、胡思强

中国标准分类号:

L5980

SJ 50033/109-1996《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》介绍

《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》(SJ 50033/109-1996)是由电子工业部于1996年8月30日发布的一项行业标准,自1997年1月1日起正式实施。

一、技术要求

1、光电参数:包括最大输出功率、阈值电流、工作电压等,以确保器件在不同工作条件下的性能稳定性和可靠性。

2、光谱特性:规定了激光二极管的中心波长、光谱宽度等参数,以满足不同应用场景对光谱特性的要求。

3、温度特性:明确了在不同温度条件下,激光二极管的光电参数和光谱特性的变化范围,以适应不同环境的应用需求。

4、可靠性:对器件的寿命、老化特性等进行了规定,以确保长期稳定运行。

二、测试方法

1、光电参数测试:采用特定的测试设备和方法,对器件的输出功率、阈值电流、工作电压等参数进行测量。

2、光谱特性测试:通过光谱分析仪器,对激光二极管的中心波长、光谱宽度等参数进行测试。

3、温度特性测试:在不同温度条件下,对器件的光电参数和光谱特性进行测试,以评估其温度稳定性。

4、可靠性测试:通过加速老化试验等方法,评估器件的寿命和可靠性。

三、检验规则

1、检验分类:明确了出厂检验、型式检验和周期检验等不同的检验类型。

2、抽样规则:规定了抽样数量、抽样方法等,以保证检验结果的代表性和准确性。

3、判定规则:明确了合格与不合格的判定标准,以及不合格品的处理方法。

四、标志、包装、运输和储存

1、标志:要求在器件上标注型号、规格、生产日期等信息,以便于识别和追溯。

2、包装:规定了包装材料、包装方式等,以保护器件在运输过程中不受损坏。

3、运输:提出了运输过程中的注意事项,如避免强烈振动、高温等不利条件。

4、储存:规定了储存条件和期限,以保证器件在储存期间的性能稳定。

检测流程

检测流程

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