GB/T12010.5-2010塑料聚乙烯醇材
2023-09-01
碳化硅单晶抛光片是一种在光学、电子、半导体、光电子等领域广泛应用的高精密度材料。为了确保碳化硅单晶抛光片的质量和可靠性,国家标准GB/T 30656-2014规范了碳化硅单晶抛光片的技术要求、试验方法和质量控制。
GB/T 30656-2014适用于制备碳化硅单晶抛光片的生产厂家和使用者。本标准规定了碳化硅单晶抛光片的分类、技术要求、试验方法、质量控制和标志、包装、运输、储存等方面的内容。
1. 分类
碳化硅单晶抛光片按照材料性质、尺寸和精度等方面进行了分类。根据材料性质可分为:N型(金刚石型)和P型(蓝宝石型);根据尺寸可分为:标准尺寸和非标准尺寸;根据精度可分为:超精密、精密和普通等级。
2. 技术要求
2.1 材料要求:碳化硅单晶抛光片应符合国家相关标准的要求,具有均匀的结构、无杂质和无裂纹等特点。
2.2 外观要求:碳化硅单晶抛光片应表面光洁、无麻点、无碰伤和划痕。
2.3 尺寸要求:碳化硅单晶抛光片的尺寸应符合标准要求,并进行相应的测量和检验。
2.4 精度要求:碳化硅单晶抛光片的厚度、直径等精度应符合规定的公差范围。
2.5 物理性能要求:碳化硅单晶抛光片应具有良好的热导性、电导性、机械强度和抗冲击性能。
GB/T 30656-2014规定了碳化硅单晶抛光片的试验方法,包括:1. 外观检验:通过目测和显微镜检查碳化硅单晶抛光片表面的光洁度、无麻点和碰伤等。2. 尺寸检验:采用合适的测量仪器和方法对碳化硅单晶抛光片的尺寸进行测量和检验。3. 精度检验:根据所需精度,采用相应的测量仪器和方法对碳化硅单晶抛光片的厚度、直径等进行测量和检验。4. 物理性能检验:通过热导率仪、电导性测试仪和冲击试验仪等对碳化硅单晶抛光片的热导性、电导性、机械强度和抗冲击性能进行测试。
GB/T 30656-2014规定了碳化硅单晶抛光片的质量控制要求,包括生产厂家应建立和实施质量保证体系、进行内部质量控制和外部质量审核等。
同时,也对碳化硅单晶抛光片的标志、包装、运输和储存进行了规范,要求生产厂家在产品上标明相应的标志和技术参数,采用适当的包装方式,确保产品的安全运输和正确储存。
GB/T 30656-2014碳化硅单晶抛光片国家标准规定了碳化硅单晶抛光片的分类、技术要求、试验方法和质量控制等方面的内容,对于保障碳化硅单晶抛光片的质量和可靠性具有重要意义。生产厂家和使用者应按照该标准的要求进行生产和使用,共同推动碳化硅单晶抛光片的发展和应用。同时,也需要在实践中不断总结和改进,以满足不断提高的需求和要求。
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