标准简介：本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。

标准号：GB/T 14115-1993

标准名称：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

英文名称：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1993-01-21

实施日期：1993-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学

起草单位：上海件五厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家技术监督局

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