标准简介：本标准等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC 748-4-2：1993《半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第二篇：线性模拟/数字转换器（ADC）空白详细标准》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据。IEC电子器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列IEC标准一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范IEC 748-11/QC 790100 半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）分规范

标准号：GB/T 18500.2-2001

标准名称：半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第二篇：线性模拟/数字转换器（ADC）空白详细规范

英文名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 2:Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2001-01-01

实施日期：2002-06-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学

起草单位：信息产业部电子工业标准化研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫.

检测流程

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