GB/T14849.5-2014工业硅化学分析方法第5部分:杂质元素含量的测定X射线荧光光谱法

2024-11-21

标准简介:GB/T14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。表 1元素 质量分数/% 元素 质量分数/%铁 0.020~1.500 铜 0.001~0.050铝 0.050~1.000 磷 0.001~0.050钙 0.010~1.000 镁 0.001~0.050锰 0.0050~0.1000 铬 0.001~0.050镍 0.0010~0.1000 钒 0.0005~0.0500钛 0.0050~0.1000 钴 0.0005~0.0500

标准号:GB/T 14849.5-2014

标准名称:工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

英文名称:Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2014-12-05

实施日期:2015-05-01

中国标准分类号(CCS):冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法

国际标准分类号(ICS):冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金

替代以下标准:替代GB/T 14849.5-2010

起草单位:昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)

发布单位:国家质量监督检验检疫.

检测流程

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