GB3834-1983半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

2024-11-29

标准号:GB 3834-1983

标准名称:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

标准类型:国家标准

标准性质:强制性

标准状态:作废

实施日期:1984-07-01

中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

替代以下标准:调整为SJ/T 10741-1996

检测流程

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