标准简介：本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。

标准号：GB/T 25185-2010

标准名称：表面化学分析——X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告

英文名称：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2010-09-26

实施日期：2011-08-01

中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法

国际标准分类号（ICS）：化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析

起草单位：北京师范大学分析测试中心

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫.

检测流程

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