GB/T5252-2006锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

2024-12-09

标准简介:本标准适用于位错密度0cm~100000cm-2的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为[111]、[100]和[113]面。

标准号:GB/T 5252-2006

标准名称:锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

英文名称:Germanium monocrystal - inspection of dislocation etch pit density

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:作废

发布日期:2006-07-18

实施日期:2006-11-01

中国标准分类号(CCS):冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

国际标准分类号(ICS):冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合

替代以下标准:替代GB/T 5252-1985;被GB/T 5252-2020代替

起草单位:北京有色金属研究总院

归口单位:中国有色金属工业协会

发布单位:国家质量监督检验检疫.

检测流程

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