GB/T11685-1989半导体X射线能谱仪的测试方法

发布时间:2023-02-10

标准号：GB/T 11685-1989

标准名称：半导体X射线能谱仪的测试方法

英文名称：Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1989-10-14

实施日期：1990-05-01

中国标准分类号（CCS）：能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合

国际标准分类号（ICS）：计量学和测量、物理现象>>17.240辐射测量

替代以下标准：被GB/T 11685-2003代替

检测流程

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