标准简介：本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。

标准号：GB/T 11685-2003

标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2003-07-07

实施日期：2004-01-01

中国标准分类号（CCS）：能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合

国际标准分类号（ICS）：能源和热传导工程>>核能工程>>27.120.01核能综合

替代以下标准：GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989

起草单位：核工业标准化研究所

归口单位：核工业标准化研究所

发布单位：国防科学技术工业委.

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