检测范围

检测中心的实验室可以提供的快闪存储器检测范围包括：

NAND闪存、NOR闪存、eMMC、UFS、SD卡、CF卡、SSD、USB闪存、TF卡、XQD卡、CFexpress卡、Memory Stick、SmartMedia卡、PC卡、SLC闪存、MLC闪存、TLC闪存、QLC闪存等。

检测项目

快闪存储器检测项目包括以下常见的几种：

外观检查、容量检测、读取速度检测、写入速度检测、随机读取检测、随机写入检测、耐久性检测、数据完整性检测、温度适应性检测、电压适应性检测、防水防尘性能检测、抗震抗摔性能检测等。

检测方法

外观检查：检查存储器的外观，包括外壳是否完整、接口是否正常等，以确保存储器没有物理损坏。

容量检测：使用的存储器检测工具，对存储器进行容量检测，以验证存储器的容量是否与标称容量一致。

读取速度检测：使用存储器性能检测工具，对存储器进行读取速度检测，以评估存储器的读取性能。

写入速度检测：使用存储器性能检测工具，对存储器进行写入速度检测，以评估存储器的写入性能。

随机读取检测：通过连续随机读取存储器中的数据，以评估存储器在处理随机读取操作时的性能表现。

随机写入检测：通过连续随机写入数据到存储器中，以评估存储器在处理随机写入操作时的性能表现。

耐久性检测：通过反复进行大容量数据读写操作，以评估存储器的耐久性和长期使用稳定性。

数据完整性检测：对存储器中的数据进行读取和校验，以确保存储器中的数据完整无误。

温度适应性检测：将存储器暴露在不同温度环境下，观察存储器的性能和稳定性。

电压适应性检测：在不同电压条件下对存储器进行检测，以验证存储器对电压变化的适应性。

防水防尘性能检测：对存储器进行防水和防尘性能检测，以确保存储器在恶劣环境下的可靠性。

抗震抗摔性能检测：对存储器进行抗震和抗摔性能检测，以验证存储器在意外撞击或震动中的可靠性。

检测周期

一般7-10个工作日出具报告，可加急。

参考标准

GB/T 35003-2018非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

GB/T 35008-2018串行NOR型快闪存储器接口规范

GB/T 35009-2018串行NAND型快闪存储器接口规范

GB/T 36477-2018半导体集成电路 快闪存储器检测方法

GB/T 42974-2023半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)

HJ 2510-2012环境标志产品技术要求 录音笔

SJ/T 11585-2016串行存储器接口要求

SJ/T 11701-2018通用NAND型快闪存储器接口

SJ/T 11790-2021固态盘能耗检测方法

检测时间周期

一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据快闪存储器检测项目而定。

检测报告有效期

一般快闪存储器检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程

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