检测内容

ecl为何检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照ecl为何检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及ecl为何的标准有38条。

国际标准分类中，ecl为何涉及到集成电路、微电子学、无线通信、辐射测量、核能工程、电子电信设备用机电元件、光纤通信、信息技术应用、航空航天发动机和推进系统。

在中国标准分类中，ecl为何涉及到半导体集成电路、广播、电视发送与接收设备、通用核仪器、光通信设备、数据媒体、航天器用能源设备、微电路综合。

国家质检总局，关于ecl为何的标准

GB/T 14025-1992半导体集成电路门阵列电路和品种ECL系列的品种

GB/T 3434-1986半导体集成电路ECL电路系列和品种

美国国防后勤局，关于ecl为何的标准

DLA SMD-5962-94592 REV A-2006硅单片,16输入多路复用器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-94590 REV A-2006硅单片,低功率五重异或门,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-93111 REV B-2005硅单片,双重总线驱动器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-78009 REV D-2004硅单片三重线接收器ECL线性微型电路

DLA SMD-5962-94591 REV A-2004硅单片,8位移位寄存器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-92306 REV A-2004硅单片,4级计数器/移位寄存器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-92327 REV A-1994硅单片,九分之一差动时钟驱动器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-92343 REV B-1994硅单片,四重查动线路驱动器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-90661-1994硅单片,2分3.3吉赫固定调制驱动器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-90567-1994硅单片,4分化3.3吉赫数字固定调制器分频器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-90561 REV A-1993硅单片,8输入优先译码器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-93104-1993硅单片,6位D型寄存器,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-93100-1993硅单片,五重2输入与/非与门,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-93101-1993硅单片,五重2输入同/同或门,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-93099-1993硅单片,四重4输入或/非与门,ECL数字微型电路

DLA SMD-5962-93098-1993硅单片,8位同步二进升值计数器,ECL数字微型电路

DLA DESC-DWG-88023 REV C-1992ECL的接口表面贴装24引脚可用第4位编程的积极的延迟线

DLA SMD-5962-90573-1991硅单片,ECL可编程逻辑设置,双极记忆微型电路

行业标准-电子，关于ecl为何的标准

SJ 50597/41-1996半导体集成电路.JE10531型ECL双D主从触发器详细规范

SJ/T 10847-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10111型ECL双3输入或非门（3输出）（可供认证用）

SJ/T 10840-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10101型ECL四2输入或/或非门（可供认证用）

SJ/T 10845-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10109型ECL双4，5输入或/或非门（可供认证用）

SJ/T 10842-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10104型ECL四2输入与门（可供认证用）

SJ/T 10737-1996半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理

SJ/T 10884-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10131型ECL双主从D触发器（可供认证用）

SJ/T 10844-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10106型ECL三4，3，3输入或非门（可供认证用）

SJ/T 10843-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10105型ECL三2，3，2输入或/或非门（可供认证用）

SJ/T 10846-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10110型ECL双3输入或门（3输出）（可供认证用）

SJ/T 10848-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10117型ECL双2路2-3输入或与/或与非门（可供认证用）

SJ/T 10841-1996电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10102型ECL四2输入或非门（可供认证用）

国际电工委员会，关于ecl为何的标准

IEC 60912:1996核仪器 - 计数器逻辑中的ECL（发射极耦合逻辑）前面板互连（IEC 912的修订）

IEC 60912-1996核仪器 计数器逻辑中的ECL(发射极耦合逻辑)面板联结

IEC 60912-1987计数器逻辑中的ECL(发射极耦合逻辑)面板联结

，关于ecl为何的标准

SIS SS-IEC 912-1990核检测仪表．计数逻辑电路ECL （发射极耦合逻辑电路）面板互连

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于ecl为何的标准

JEDEC JESD8-2-1993低压发射极耦合逻辑(ECL)集成电路的运行电压和接口水平标准

检测时间周期

一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据ecl为何检测项目而定。

检测报告有效期

一般ecl为何检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程

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