检测内容

x-射线能谱仪检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照x-射线能谱仪检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及x- 射线能谱仪的标准有40条。

国际标准分类中，x- 射线能谱仪涉及到分析化学、长度和角度测量、核能工程、辐射测量、光学和光学测量、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中，x- 射线能谱仪涉及到木材竹材防腐、基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电子光学与其他物理光学仪器、核仪器与核探测器综合、通用核仪器、电子测量与仪器综合。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x- 射线能谱仪的标准

GB/T 40196-2021X射线荧光能谱仪测定防腐木材和木材防腐剂中CCA和ACQ的方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x- 射线能谱仪的标准

GB/T 22571-2017表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准

国家质检总局，关于x- 射线能谱仪的标准

GB/T 20726-2015微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法

GB/T 25184-2010X射线光电子能谱仪鉴定方法

GB/T 22571-2008表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准

GB/T 21006-2007表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性

GB/T 20726-2006半导体探测器X射线能谱仪通则

GB/T 11685-2003半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

德国标准化学会，关于x- 射线能谱仪的标准

DIN ISO 16129-2020表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

美国材料与试验协会，关于x- 射线能谱仪的标准

ASTM E1217-11(2019)用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E2108-16X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践

ASTM E1217-11用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E2108-10X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践

ASTM E1217-05用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E2108-05X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践

ASTM E2108-00X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践

ASTM E1217-00用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E902-94(1999)检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程

国际标准化组织，关于x- 射线能谱仪的标准

ISO 16129-2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法

ISO 16129:2012表面化学分析——X射线光电子能谱；X射线光电子能谱仪日常性能评估程序

ISO 16129-2012表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程

ISO 15472:2010表面化学分析——X射线光电子能谱仪——能量标度的校准

ISO 21270:2004表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性

ISO 21270-2004表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

英国标准学会，关于x- 射线能谱仪的标准

BS ISO 16129-2012表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程

韩国标准，关于x- 射线能谱仪的标准

KS C IEC 60759-2009半导体X射线能谱仪的标准试验程序

KS C IEC 60759-2009半导体X射线能谱仪的标准试验程序

KS D ISO 21270-2005表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

KS D ISO 21270-2005表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

，关于x- 射线能谱仪的标准

SIS SS IEC 759-1986核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序

行业标准-电子，关于x- 射线能谱仪的标准

SJ/T 10714-1996检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法

国际电工委员会，关于x- 射线能谱仪的标准

IEC 60759:1983/AMD1:1991修改件1——半导体X射线能谱仪的标准试验程序

IEC 60759-1983/AMD1-1991修改件1——半导体X射线能谱仪的标准试验程序

IEC 60759 AMD 1-1991半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1

IEC 60759:1983半导体X射线能谱仪的标准测试程序

IEC 60759-1983半导体X射线能谱仪的标准试验程序

检测时间周期

一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据x-射线能谱仪检测项目而定。

检测报告有效期

一般x-射线能谱仪检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程

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