半导体光电器件检测报告项目和标准介绍

2023-09-19

检测内容

半导体光电器件检测需要根据标准内指定项目、方法进行,GB国标、行标、外标、企标、地方标准。半导体光电器件检测项目和标准是什么?第三方检测机构提供半导体光电器件检测一站式服务,工程师一对一服务,确认需求、推荐方案、寄样送检、出具报告、售后服务,3-15工作日出具报告,欢迎咨询半导体光电器件检测服务

检测周期:常规3-15个工作日,可加急(特殊样品除外)

报告样式:电子版、纸质,中、英文均可。

报告资质:CMA、CNAS

半导体光电器件检测项目:

检测项目:

低温存储试验、冷热冲击试验、微米级长度测量、温度偏置寿命试验、温度偏置寿命试验(脉冲)、温度循环偏置试验、温度循环试验、温湿度偏压寿命试验、温湿度存储试验、高温存储试验

半导体光电器件检测标准:

检测标准:

1、JESD22-A103E (October 2015) 高温存储试验

2、JESD22-A105C; Method A、 B (Jan 2004) 温度循环偏置试验

3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷热冲击试验

5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验

6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)

7、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验

8、JESD22-A108F (Jul 2017) 温度、偏置和寿命试验

9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 环境试验 第2-67部分:试验方法 试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)

10、GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则

11、JESD 22-A101D 温湿度存储试验 JESD22-A101D (July 2015)

12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 环境试验方法 2-2部分 试验B:高温

13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷热冲击试验

样品检测流程:

1、致电咨询百检客服,确认样品及需求。

2、客服安排工程师对接,根据需求制定检测方案。

3、确认方案、报价后签订合同,安排寄样检测。

4、实验室根据需求,对样品开展检测工作。

5、检测结束,出具样品检测报告。

6、如需加急请提前与工程师或客服进行沟通。

百检检测报告用途

销售:出具检测报告,提成产品竞争力。

研发:缩短研发周期,降低研发成本。

质量:判定原料质量,减少生产风险。

诊断:找出问题根源,改善产品质量。

科研:定制完整方案,提供原始数据。

竞标:报告认可度高,提高竞标成功率。

检测项目及检测标准相关信息就介绍到这里。第三方检测机构期待与您的合作,详情请联系百检客服。

检测报告

检测报告图片

检测优势

1、一份报告,全国通用,省时省钱省心!

2、汇集众CNAS、CMA等资质的第三方检测机构遍布全国。

3、提供各种认证计量、电商入驻、商超进驻、招投标等定制检测服务。

4、专属检测顾问,1v1服务。

5、甄选优质实验室,严控检测质量。

6、报告加签防伪,溯源保障。

检测流程

检测流程

温馨提示:以上内容仅供参考,更多检测信息请咨询客服。

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