检测内容

场效应晶体管检测需要根据标准内指定项目、方法进行，GB国标、行标、外标、企标、地方标准。场效应晶体管检测样品检测报告结果会与标准中要求对比，在报告中体现产品质量。第三方检测机构可提供场效应晶体管检测一站式服务，工程师一对一服务，确认需求、推荐方案、寄样送检、出具报告、售后服务，3-15工作日出具报告，欢迎咨询场效应晶体管检测周期3-15个工作日，可加急（特殊项目除外），欢迎咨询。

百检检测第三方机构行业覆盖广，包括纺织品、化妆品、绝缘工具、五金件、食品、农产品等检测，为公司、企业产品提供质检服务，可用于投标、销售、商超入驻等，为高校或企业科研提供检测支持，帮助完成科研项目或新产品研发。

场效应晶体管检测项目：

检测项目：

栅-源阈值电压VGS(TO)、栅*截止电流和栅*泄露电流、漏*截止电流、栅-源阈值电压、栅*截止电流、漏*电流、高温反偏、栅*漏泄电流、正向跨导、漏一源击穿电压、静态漏-源通态电阻、反向传输电容Crss、开关时间、栅-源阈值电压VGS(th)、栅*截止电流IGSS、源-漏二*管正向压降VSD、漏-源击穿电压V(BR)DSS、漏*截止电流IDSS、短路正向跨导gfs、管壳热阻（瞬态Z（th）J-C和稳态R（th）J-C）、输入电容Ciss、输出电容Coss、静态漏-源通态电阻RDS(on)、漏-源（直流）电压、栅-源（直流）电压、栅-漏（直流）电压、漏*（直流）电流、漏*峰值电流、漏*反向（直流）电流、漏*反向峰值电流、反偏安全工作区、短路安全工作区、重复雪崩能量、非重复雪崩能量、击穿电压、漏*漏电流、栅*漏电流、漏-源通态电阻、漏-源通态压降、开通能量、关断能量、栅*电荷、输入电容、输出电容、反向传输电容、栅*内阻、反向恢复时间、反向恢复电荷、漏-源反向电压、结-壳瞬态热阻抗和热阻、高温阻断（HTRB）、高温栅*偏置、间歇工作寿命（负载循环）、栅-源截止电压、栅*截止电流或栅*漏泄电流、漏-源通态电压、栅-源短路时，漏*电流、漏-源击穿电压、漏-源短路时，栅*电流、栅-源阈值电压VGS(th)、栅*截止电流和栅*泄漏电流IGSS、漏*截止电流IDSS、栅-源截止电压VGSoff、栅-源阈值电压VGS（th）、栅源*截止（漏泄）电流IGSS、正向跨导gfs、漏源击穿电压V（BR）DSS、漏源*截止电流IDSS、静态漏-源通态电阻rDS、噪声电压噪声系数、时间、热阻、电压、电容、电导、电流、电阻、栅源漏电流、栅源阈值电压、漏源击穿电压、漏源通态电阻、跨导、零栅压漏*电流、静态漏源通态电压、静态漏源通态电阻、小信号短路正向跨导、栅*截止电流或栅*漏泄电流IGSS、栅*阈值电压VGS(th)、漏-源击穿电压V(BR)DSS、漏*截止电流IDSS、漏*电流ID、通态漏-源电阻rds（on）、栅-源阈值电压VGS（th）、栅源击穿电压V（BR）GSS、漏源击穿电压V（BR）DSS、栅*泄漏电流、静态漏—源通态电阻、栅-源截止电压(VGSoff）、栅-源阈值电压(VGSth)、漏-源通态电压(VDSon)、静态漏-源通态电阻(rDSon)、反向栅源漏电流、正向栅源漏电流、漏源通态电压、栅源短路时栅*漏电流、漏-源短路漏*电流、栅-源阈值电压VGS（TO）、栅*截止电流或栅*泄露电流、栅*阈值电压VGS（th）、栅源短路时栅*漏电流IGSS、正向跨导ggs（Vgs）、漏-源击穿电压BVDSS、漏-源短路漏*电流IDSS、漏*电流ID、漏*电流Id（on）、通态漏-源电阻rDS（on）、静态漏-源通态电阻RDS（on）、外部目验、密封、尺寸、快速温度变化、恒定加速度、栅源截止电压、栅源阈电压、湿热循环、漏泄或截止电流、漏源电压、稳态湿热、高温贮存、(结栅型、 绝缘栅耗尽型):G-S关断电压VGS(off)； (绝缘栅增强型):G-S阈值电压VGS(th)、(结栅型、 绝缘栅耗尽型、绝缘栅增强型):崩溃电压V(BR)DSS、(绝缘栅增强型IDSS)或(结栅型、绝缘栅耗尽型):漏*关断电流IDSX、静态D-S导通阻抗RDS(on)或者D-S导通电压VDS(on)、IDSX:漏*关断电流/IDS*:漏*漏电流

场效应晶体管检测标准：

检测标准：

1、GB/T 6219-1998 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 **篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范 8 表1 A1

2、GB/T4586-1994 半导体器件第8部分 场效应晶体管 Ⅳ.6

3、GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章2

4、GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章6

5、GB/T 4586-94(IEC 60747-8:1984) 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅲ章3.1.11

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3407

7、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二*管 第Ⅳ章第1节2

8、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范 4

9、IEC 60747-8 Ed. 3.0 b:2010 半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 6.3.5

10、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第IV章 2

11、IEC 60747-8-2010 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 6.3.3

12、IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 6.3.2

13、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 1039/2.1.1

14、IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 6.2.1.1

百检检测流程：

1、百检客服确认检测需求（样品、项目、报告用途等）

2、安排对应工程师对接服务。

3、确认报价，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室接收样品，根据需求开始检测。

5、完成检测，出具检测报告。

6、售后服务。

检测报告作用：

1、项目招投标：出具第三方CMA/CNAS资质报告;

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可;

3、用作销售报告：出具真实有效的检测报告，让消费者更放心;

4、论文及科研：提供的个性化检测需求;

5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据;

6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正;

百检第三方机构检测服务包括食品、环境、医疗、建材、电子、化工、汽车、家居、母婴、玩具、箱包、水质、化妆品、纺织品、日化品、农产品等多项领域检测服务，欢迎咨询。

检测报告

检测优势

1、一份报告，全国通用，省时省钱省心！

2、汇集众CNAS、CMA等资质的第三方检测机构遍布全国。

3、提供各种认证计量、电商入驻、商超进驻、招投标等定制检测服务。

4、专属检测顾问，1v1服务。

5、甄选优质实验室，严控检测质量。

6、报告加签防伪，溯源保障。

检测流程

温馨提示：以上内容仅供参考，更多检测信息请咨询客服。